SEM
掃描電子顯微鏡是一種眾所周知的無(wú)損分析技術(shù)，它使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級(jí)。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應(yīng)用于各個(gè)科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域。

TESCAN 提供場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 ( FE-SEM ) ，配備高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射燈絲，可以獲得高分辨率和低噪聲成像效果。其中，TESCAN MIRA 系列是高分辨率的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。此外，TESCAN 最新推出了 TESCAN CLARA 和 TESCAN MAGNA 系列產(chǎn)品。TESCAN CLARA 采用新型BrightBeam™ 電子鏡筒技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。TESCAN MAGNA 配置Triglav™ 型超高分辨率電子鏡筒，同時(shí)使用了全新的電子光學(xué)系統(tǒng)和探測(cè)器系統(tǒng)，能夠提供良好的表面靈敏度和襯度圖像，實(shí)現(xiàn)對(duì)電子束高敏材料或不導(dǎo)電材料納米特征的觀察。

產(chǎn)品型號(hào)（點(diǎn)擊型號(hào)鏈接可查看詳細(xì)介紹）：

TESCAN MIRA
TESCAN CLARA
TESCAN MAGNA

適用領(lǐng)域

半導(dǎo)體和微電子：球柵陣列、硅通孔、引線焊接、微機(jī)電系統(tǒng)
材料科學(xué)：鋼鐵及合金、陶瓷及硬質(zhì)涂層、玻璃、聚合物及復(fù)合材料、土木工程和建筑材料、木材，紡織品及紙張
生命科學(xué)：生物醫(yī)學(xué)工程、細(xì)胞&組織形態(tài)學(xué)、微生物學(xué)、制藥技術(shù)、植物和動(dòng)物科學(xué)、亞細(xì)胞分析、環(huán)境和食品科學(xué)
地球科學(xué)：巖石學(xué) & 礦物學(xué)、古生物學(xué)、礦物加工、廢物回收、